Полезная информация: Режимы работы атомно силовых микроскопов: обзор
Добавлено: 2021-07-06 16:48:05 |
АСМ прибор представляет сканирующее зондовое устройство высокого разрешения. Его работа основан на получении информации о взаимодействии силового типа между зондом и поверхности. В качестве первого выступает кантилевер — остриё, являющееся наноразмерным. Силы, проявляющиеся между образцом и кантилевером, называются Ван-дер-Ваальса. Исходя из их типа, расстояния выделяется 3 метода проведения процесса. Контактный способПри таком режиме перекрываются оболочки атомов. В итоге появляется отталкивание. Атом кантилевера начинает контактировать с поверхностью. Это дает возможность произвести сканирование. Если поверхность чистая, можно вести процесс при среднем расстоянии. Изгиб кантилевера измеряется для всех точек индивидуально. Картинка отображает распределение силы взаимодействия зонда и поверхности в пространстве. Указанный способ обладает рядом положительных черт:
Из недостатков стоит выделить:
Такой режим считается наиболее популярным. Он является самым удобным из всех, поэтому применяется активно. Подробнее изучить принципы работы и характеристики АСМ можно здесь - https://nanoafm.ru/produktsiya/skaniruyushchie-zondovye-mikroskopy Бесконтактный способЗонд в данном случае расположен на расстоянии, где оказывают воздействие силы притягивающего характера. Особенности поверхности под влиянием сил Ван-дер Ваальса сдвигают характеристики частоты. Можно определять и высшие гармоники от поступающего сигнала. Амплитуда колебаний является постоянной. Фаза, частота определяются во всех точках поверхности. Из достоинств способа выделяются:
Из минусов следует отметить:
В процессе кантеливер может загрязниться. Это меняет частотные характеристики. Способ работает лишь в условиях вакуума. Так как у способа выделяется множество недостатков, широкого применения он не нашел. Полуконтактный способВ этом варианте кантилевер также колеблется. При этом в нижнем полупериоде он расположен в сфере отталкивающих сил. Метод является промежуточным. Из положительных черт способа выделяются:
Основной минус — небольшая скорость сканирования. Чаще всего на практике используется контактный метод. Его характеристики для проведения исследований являются оптимальными. Эти методы сканирования, а также многие другие режимы доступны в таком известном аппарате, как атомно-силовой микроcкоп Ambient AFM от Nanomagnetics Instruments. |
|
|